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    场发射透射电子显微镜(HRTEM

     

     

    简介

    Tecnai G2 F30 是一个真正多功能、多用户环境的300kV工具。它以其将各种透射电镜技术(包括TEM、EFTEM、Lorentz透镜、STEM、EDX/EELS频谱成像等)方便灵活地有机组合, 形成强大的分析功能。任务导向型用户界面和自动采集数据功能, 允许用户在不同的操作模式和数据采集技术之间快速切换, 切换过程中系统自动调回所有相关的操作设置。
                  除了具有200kV的各种优点外, Tecnai G2 F30提供了300kV的加速电压, 可分析更厚、更具挑战性的样品。Tecnai G2 F30使用户可以在原子尺度的分辨率进行高质量、高稳定性的TEM、STEM和纳米分析。

    主要测试功能:
    明场像(BF)、暗场像(DF)
    高分辨像(HRTEM)
    能谱分析(EDX)
    选区电子衍射(SAED)
    透射扫描(STEM)
    透射扫描~能谱(STEM~EDX)
     

     

     

    技术参数:
                  1.信息分辨率极限  U-TWIN 0.10nm  S-TWIN 0.14nm
                  2.点分辨率  U-TWIN 0.17nm  S-TWIN 0.20nm
                  3.高分辨STEM分辨率  U-TWIN 0.14nm  S-TWIN 0.19nm
                  4.样品最大倾角 S-TWIN +/- 40o

    主要特点:
                  1.高性能的透射电子成像、扫描透射成像和纳米、原子尺度分析
                  2.所有的先进分析技术集成于一体: TEM、HR-TEM、STEM、HR-STEM、电子衍射、EFTEM、EDS和EELS频谱图、全息技术和Lorentz透镜技术
                  3.强样品穿透能力
                  4.最佳性能的能量过滤透射电镜和电子能量损失谱分析
                  5.超稳定的聚焦、高压、能量色散、束斑、对中和样品台
                  6.多用户环境下的方便和安全操作
                  7.适用于大量样品的快捷分析
                  8.将来技术, 今日应用
                  9.基于Windows XP的用户界面